見えない世界を、
一層ずつ解き明かす。

ボリューム電子顕微鏡の最先端アプローチ

3D Microscopy Sample

あらゆるSEMをボリュームSEMに変えるミクロトーム

革新的なシリアルブロックフェイスイメージングツールを設計・開発・製造しています — Katana ミクロトーム

ユニバーサル互換性

ステージとポールピース間の距離が56mm以上のあらゆるSEMにシームレスに統合。現行FEG SEMの99%に対応。TESCANおよびJEOL SEMとの公式統合。

プラグ＆プレイ

わずか数分で完了するシンプルな設置プロセスで、SEMをすぐにボリュームEMイメージングに対応させます。

精度と安定性

ナノメートル分解能と最大限の剛性を両立するよう設計。長時間のイメージングにも信頼性を発揮します。

世界の主要研究機関に採用されています

University of Lausanne
University of Cambridge
Washington University
University of Innsbruck
National University of Singapore
University of Sydney
La Trobe University
King's College London
CNPEM

精密チャージニュートラリゼーション搭載

高精度にイオン化ガスを照射し、チャージングアーティファクトを除去

Without charge neutralisation — visible charging artifacts
With charge neutralisation — clean, artifact-free imaging
PCNなし
PCNあり

新登場

Kensho BSED

物事の真の姿を見る。

超高感度検出 · 低線量に最適化 · 低kVイメージング

Kensho BSED — Backscattered Electron Detector
詳細を見る