洞察微观，
逐层揭秘。

体电镜的前沿方案

3D Microscopy Sample

将任何SEM转变为体电镜的超薄切片机

我们设计、开发并制造革命性的连续块面成像工具 — Katana 超薄切片机

通用兼容性

可无缝集成到样品台至极靴距离大于56 mm的任何SEM。兼容99%的现有场发射SEM。已与TESCAN和JEOL SEM官方集成。

即插即用

安装过程简单快捷，仅需数分钟即可让您的SEM具备体电镜成像能力。

精度与稳定性

在实现纳米级分辨率的同时确保最大刚性，适合长时间成像。

受到全球顶尖研究机构的信赖

University of Lausanne
University of Cambridge
Washington University
University of Innsbruck
National University of Singapore
University of Sydney
La Trobe University
King's College London
CNPEM

搭载精密电荷中和系统

通过精准投射电离气体，消除荷电伪影

Without charge neutralisation — visible charging artifacts
With charge neutralisation — clean, artifact-free imaging
无PCN
有PCN

全新推出

Kensho BSED

洞悉事物的本质。

超高灵敏度检测 · 低剂量优化 · 低kV成像

Kensho BSED — Backscattered Electron Detector
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